Karaalioğlu, C., Skarlatos, Y., “Measurement of Thin Film Thickness by Electronic Speckle Pattern Interferometry”, Optics Communications, 234, 1-6, 269-276, 2004.

Yayın Tarihi: 
Perşembe, 1 Ocak, 2004
Yayın Indexi: 
SCI-E
Yayin Birimi: 
Fen-Edebiyat Fakültesi
Yayın Bölümü: 
Fizik
Yayın Türü: 
Makale