Fazeli, M., "Joint Effects of Aging and Process Variations on Soft Error Rate of Nano-Scale Digital Circuits", Journal of Circuits Systems and Computers, 30, 1, 2021.

Yayın Tarihi: 
Cuma, 1 Ocak, 2021
Yayın Indexi: 
SCI-E
Yayin Birimi: 
Mühendislik Fakültesi
Yayın Bölümü: 
Bilgisayar Mühendisliği
Yayın Türü: 
Makale