Tanırcan, G., Alçık, H., Beyen, K., "Reliability of MEMS Accelerometers for Instrumental Intensity Mapping of Earthquakes", Annals of Geophysics, 60, 2017.

Yayın Tarihi: 
Pazar, 1 Ocak, 2017
Yayın Indexi: 
SCIE
Yayin Birimi: 
Enstitüler
Yayın Bölümü: 
Kandilli Rasathanesi ve Deprem Araştırma Enstitüsü
Yayın Türü: 
Makale