Avcıbaş, I., Memon, N., Sankur, B., “Steganalysis Using Image Quality Metrics”, IEEE Transactions on Image Processing, 12, 2, 221-229, 2003.

Yayın Tarihi: 
Çarşamba, 1 Ocak, 2003
Yayın Indexi: 
SCI-E
Yayin Birimi: 
Mühendislik Fakültesi
Yayın Bölümü: 
Elektrik-Elektronik Mühendisliği
Yayın Türü: 
Makale