Proje özeti
Spintronik uygulamalarda antiferromanyetik malzemelerin gerek manyetik hafıza, gerekse THz sinyal üreteci aygıtlarda kullanılabilirliğinin belirlenmesi için manyetik karakterizasyonlarına yönelik güvenilir alternatif yöntemlere ihtiyaç doğmuştur. Bu projede VNA-FMR tekniğiyle yapılacak ölçümlerde PtMn, Ir20Mn80, L12 faz IrMn3, PdMn antiferromanyetik ultra-ince filmlerde bu ihtiyacı karşılayacak karakterizasyonun yapılması hedeflenmiştir.